ITU-T Recommendations

تتضمن التوصية ITU-T G.650.1 تعاريف المعلمات الخطية المحددِة لأنظمة الألياف البصرية والكبلات أحادية الأسلوب. وتشمل كذلك طرائق اختبار مرجعية وطرائق اختبار بديلة لتحديد خصائص هذه المعلمات.وتعد أساليب الاختبار تلك ملائمة بصورة أساسية لقياسات المصنع للنعوت الخطية المحددِة لأنظمة الألياف البصرية والكبلات أحادية الأسلوب. ويمكن استعمال بعض طرائق الاختبار تلك أيضاً لتحديد خصائص المكونات البصرية المنفصلة.وفيما يلي السرد التاريخي لهذه التوصية:1993: أُلغيت التعاريف وأساليب الاختبار من التوصيات الخاصة بالألياف أحادية الأسلوب، من قبيل التوصية ITU-T G.652 واستُخدمت لإنشاء النسخة الأولية من التوصية ITU-T G.650.1997: أضافت النسخة الثانية من التوصية ITU-T G.650 تعريفات وطرق اختبار للتشتت بأسلوب الاستقطاب والتذييلات I وII وIII. وأُضيف أيضاً التحديد المحسّن لطول موجة القطع (الفقرة 4.3.1.3.5).2000: أنشأت النسخة الثالثة أساليب اختبار مرجعية وبديلة للتشتت بأسلوب الاستقطاب، وأدخلت تعديلات على التعاريف وطرائق الاختبار لخطأ مركزة اللبّ (الفقرات 4.3 و2.5)، وأضافت الفقرة 4.1.5 والتذييلات IV وV وVI.2002: لأغراض تسهيل الصيانة، قُسّمت التوصية ITU-T G.650 إلى توصيات أصغر. وتحتوي التوصية ITU-T G.650.2 على تعاريف وطرائق اختبار للخصائص الإحصائية وغير الخطية للألياف والكبلات أحادية الأسلوب.2004: أضافت النسخة الثانية من التوصية ITU-T G.650.1 طريقة اختبار بديلة ثالثة "نمذجة التوهين الطيفي" (الفقرة 4.4.5) والتذييل III الجديد "مثال لنموذج مصفوفة". ونُقلت هذه المادة من التوصيات الخاصة بالألياف أحادية الأسلوب إلى هذه التوصية ITUT G.650.1. وبالإضافة إلى ذلك، أُضيفت إجراءات تركيب التشتت اللوني (الملحق A).2010: أضافت النسخة الثالثة من التوصية ITU-T G.650.1 أسلوب الاختبار "أساليب اختبار خسارة الانحناء الكلي" (الفقرة 6.5). وحُذف طول موجة القطع لكبل العبور من الفقرة 3.5. وأُضيف وصف إضافي في طريقة اختبار طول موجة القطع (الفقرة 2.3.1.3.5). وخضعت المعادلة 5-1 للتصحيح. وأُضيف وصف تفصيلي في أسلوب اختبار الإثبات (الفقرة 7.5). وحُدّث التذييل II.2018: أضافت النسخة الرابعة من التوصية ITU-T G.650.1 التذييل IV (من التعديل 1 الصادر في 2012) لتوفير إجراءات قياس التداخل المتماسك متعدد المسيرات (MPI). وحُذفت تقنية قياس التداخل لقياس التشتت اللوني من الفقرة 5.6 ونُقلت إلى التذييل V. وأُدخلت تحسينات على وصف تفاصيل القياس الخاصة بالألياف المذكورة في التوصية ITU-T G.657 بشأن MFD وطول موجة القطع واختبارات التوهين الطيفي. وأُدخلت تعديلات على RTM وATM لقياس طول موجة القطع. وأُضيف مثال على أسلوب الاستكمال الداخلي في القسم 3.I. وخضعت المعادلة 61 للتصحيح.2020: قامت النسخة الخامسة من التوصية ITU-T G.650.1 بمراجعة طريقة الاختبار البديلة الثالثة "نمذجة التوهين الطيفي" (الفقرة 4.4.6) لتغطية إمكانية تطبيق عدد أقل من الأطوال الموجية المتوقعة لنمذجة نطاق أطوال موجية أضيق بكثير. وفي التذييل III، "مثال لنموذج المصفوفة"، استُبدلت مصفوفة المثال الحالية للألياف الواردة في التوصية ITU-T G.652 بمصفوفة جديدة تستخدم أربعة أطوال موجية متوقعة، وأضيفت مصفوفة جديدة للألياف الواردة في التوصية ITU-T G.654 باستخدام ثلاثة أطوال موجية متوقعة. وقُدّم شرح لاعتماد خطأ النمذجة على طول الموجة كدالة لعدد الأطوال الموجية المتوقعة.2023: قامت النسخة السادسة من التوصية ITU-T G.650.1 بتنقيح طريقة الاختبار المرجعي "مسح المجال البعيد" (الفقرة 1.1.6). وقُدّم عامل الدقة K باعتباره العلاقة بين المنطقة النشطة للكشف والمسافة من نهاية الألياف. وعُمّم الحد الأدنى للنطاق الديناميكي. وعُدّل وصف الكاشف الخاص بمسح المجال البعيد. وبالإضافة إلى ذلك، يوصى بفتحة رقمية قصوى تبلغ 0,4 للألياف الواردة في التوصيتين ITU-T G.655 وITU-T G.656 بالإضافة إلى الألياف الواردة في التوصية ITU-T G.653 في طريقة الاختبار البديلة الأولى "تقنية الفتحة المتغيرة" (الفقرة 2.1.6).