Document :

ITU-T SG 12  (Study Period 2017)  Contribution  232

Title :

Evolution of LTE circuit switched fallback: impact on quality of experience (QoE) and quality of service (QoS)

Date :

2018-10-03

Source :

Ministère des Postes et Télécommunications, chargé de la Promotion des Nouvelles Technologies d'Information et de Communication (Central African Rep.)

AI/Question :

Q12/12

Meeting :

2018-11-27

Access :

Restricted to TIES users [ITU-T]