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[171]  Reference Degradation for P.835: Extended Target MOS Mapping

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Mise à disposition

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Zip (Document)  

2709452 octets 2026-05-27 [171] 
 

Document :

UIT-T SG12  (Période d'études 2025)  Contribution  171

Titre :

Reference Degradation for P.835: Extended Target MOS Mapping

Reçu le :

2026-05-27

Source :

HEAD Acoustics GmbH (Germany)

AI/Question :

Q7/12

Réunion :

2026-06-09

Disponibilité :

Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-T]

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Mis à jour le : 2026-05-27