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Gestion des télécommunications, y compris le RGT
Période d'études 2001

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Contributions Tardives [ AI/Question: Q5/4 ]
	Numéro	Titre	Source	AI/Question	Date
	[ 157 ]	Proposals on methods to evaluate jitter test sets	Acterna	Q5/4	2003-10-16
	[ 153 ]	Proposal of J0/Z0 diagnostic test pattern	CIAJ (Anritsu)	Q5/4	2003-10-15
	[ 149 ]	Peak-Peak jitter measurement parameters	Agilent Technologies	Q5/4	2003-10-15
	[ 122 ]	Meeting Report of Q.5/4 - Interim meeting, Eningen, 9-11th September 2003	Rapporteur, Q.5/4	Q5/4	2003-09-23
	[ 116 ]	O.172 Jitter Transfer Accuracy	Tektronix	Q5/4	2003-01-27
	[ 107 ]	MTIE Upper Limit for TDAV Wander Noise	CIAJ (Anritsu)	Q5/4	2003-01-24
	[ 95 ]	Verification method of Jitter Test Set	CIAJ (Anritsu)	Q5/4	2003-01-22
	[ 90 ]	Amendment of Annex A/O.172	ACTERNA	Q5/4	2003-01-20
	[ 89 ]	Proposal of a test signal specification in O.172 for jitter accuracy verification	ACTERNA	Q5/4	2003-01-20
	[ 77 ]	INCORPORATION OF OTN JITTER TESTING IN O.172	TEKTRONIX	Q5/4	2002-03-27
	[ 76 ]	JITTER TRANSFER MEASUREMENT ACCURACY	TEKTRONIX	Q5/4	2002-03-27
	[ 65 ]	DEFINITION OF TABLE 8/O.172 - FIXED ERROR (W) OF SDH STRUCTURED SIGNAL	CIAJ (ANRITSU)	Q5/4	2002-03-26
	[ 64 ]	MTIE NOISE GENERATION FOR WANDER NOISE TOLERANCE MEASUREMENT	CIAJ (ANRITSU)	Q5/4	2002-03-26
	[ 61 ]	SKEWNESS AND KURTOSIS LIMITS FOR O.172	AGILENT TECHNOLOGIES	Q5/4	2002-03-26
	[ 60 ]	INTRODUCTION OF A 12kHz HIGH-PASS MEASUREMENT FILTER FOR O.172	AGILENT TECHNOLOGIES	Q5/4	2002-03-26
	[ 59 ]	INTRINSIC JITTER FIXED ERROR REDUCTION OF SDH LINE JITTER MEASUREMENTS FOR O.172	AGILENT TECHNOLOGIES	Q5/4	2002-03-26
	[ 58 ]	PROPOSAL TO DEVELOP A NEW RECOMMENDATION O.173 FOR OTN	ACTERNA	Q5/4	2002-03-26
	[ 21 ]	TDEV Wander noise generation	CIAJ (Anritsu)	Q5/4	2001-01-03
	[ 20 ]	Verification of MTIE calculation algorithm	CIAJ (Anritsu)	Q5/4	2001-01-03
	[ 7 ]	Amendment of table 5a of Draft Revised Recommendation O.172 (09/00)	ACTERNA	Q5/4	2001-01-03
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