Document :

UIT-R R23-WP3K  Contribution  178

Titre :

Monte Carlo clutter loss simulations - Additional comparison with ray-tracing tool

Reçu le :

2025-05-14

Source :

Politecnico di Milano Dipartimento di Elettronica, Informazion e Biongegneria

Réunion :

2025-05-12

Disponibilité :

Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-R]