[806-GEN] LS/i/r evaluating the leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to ITU-R WP5B-5B/TEMP/399-E, ITU-R WP1A-1A/TEMP/103-E, ITU-R WP1A-1A/TEMP/101-E) [from ITU-T SG5]

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English	Zip (Document)	821401 octetos	2015-12-08	[806-GEN]

Documento :	UIT-T SG 9 (Periodo de estudios 2013) Documento Temporale 806-GEN
Título :	LS/i/r evaluating the leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to ITU-R WP5B-5B/TEMP/399-E, ITU-R WP1A-1A/TEMP/103-E, ITU-R WP1A-1A/TEMP/101-E) [from ITU-T SG5]
Recibido en :	2015-12-08
Origen :	ITU-T SG5
AI/Cuestión :	Q13/9
Disponibilidad :	Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]