Documento :

UIT-T SG15  (Periodo de estudios 2009)  Contribución  1300

Título :

Rationale to support Test ID in Delay Measurement in Y.1731 and G.8021

Recibido en :

2011-02-01

Origen :

Verizon , AT&T

AI/Cuestión :

Q10/15, Q9/15

Reunión :

2011-02-14

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]