[1728-GEN] Draft LS/o/r on leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to SG9 - LS 164 -E) and (reply to ITU-R WP 1A - Document 1A/TEMP/22 -E) [to ITU-T SG9 and ITU-R WP1A]

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Página principal : UIT-T : SG 5 : Documentos Temporales (Reunión 2016-10-10) : 1728-GEN

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[1728-GEN] Draft LS/o/r on leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to SG9 - LS 164 -E) and (reply to ITU-R WP 1A - Document 1A/TEMP/22 -E) [to ITU-T SG9 and ITU-R WP1A]

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English	Word	47104 octetos	2016-10-12	[1728-GEN] Revision 1
	Word	46592 octetos	2016-10-11	[1728-GEN]

Documento :	UIT-T SG 5 (Periodo de estudios 2013) Documento Temporale 1728-GEN
Título :	Draft LS/o/r on leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to SG9 - LS 164 -E) and (reply to ITU-R WP 1A - Document 1A/TEMP/22 -E) [to ITU-T SG9 and ITU-R WP1A]
Recibido en :	2016-10-11
Origen :	Rapporteur Q8/5 , Chairman ITU-T SG5
AI/Cuestión :	Q8/5
Disponibilidad :	Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]

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Actualizado el : 2016-10-12