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[806-GEN] LS/i/r evaluating the leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to ITU-R WP5B-5B/TEMP/399-E, ITU-R WP1A-1A/TEMP/103-E, ITU-R WP1A-1A/TEMP/101-E) [from ITU-T SG5] | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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