Documento :

UIT-T SG 15  (Periodo de estudios 2013)  Contribución  1595

Título :

Test results and discussion of the EVM metrics

Recibido en :

2016-02-01

Origen :

CAICT, P.R.China , ZTE Corporation

AI/Cuestión :

Q6/15

Reunión :

2016-02-15

Disponibilidad :

Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]