[777-GEN] LS/i/r on evaluating the leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to SG5-LS101; SG5-LS102; SG15-LS188) [from ITU-R WP5B]

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Página principal : UIT-T : SG 9 : Documentos Temporales (Reunión 2016-01-21) : 777-GEN

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[777-GEN] LS/i/r on evaluating the leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to SG5-LS101; SG5-LS102; SG15-LS188) [from ITU-R WP5B]

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English	Word	91136 octetos	2015-07-30	[777-GEN]

Documento :	UIT-T SG 9 (Periodo de estudios 2013) Documento Temporale 777-GEN
Título :	LS/i/r on evaluating the leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to SG5-LS101; SG5-LS102; SG15-LS188) [from ITU-R WP5B]
Recibido en :	2015-07-29
Origen :	ITU-R WP5B
AI/Cuestión :	Q1/9, Q7/9
Disponibilidad :	Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]

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Actualizado el : 2015-07-30