[1620-GEN] LS/i/r on leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to ITU-T SG5-LS121) [from ITU-T SG9]

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[1620-GEN] LS/i/r on leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to ITU-T SG5-LS121) [from ITU-T SG9]

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English	Zip (Document)	713940 octetos	2016-09-14	[1620-GEN]

Documento :	UIT-T SG 5 (Periodo de estudios 2013) Documento Temporale 1620-GEN
Título :	LS/i/r on leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to ITU-T SG5-LS121) [from ITU-T SG9]
Recibido en :	2016-09-14
Origen :	ITU-T SG9
AI/Cuestión :	Q6/5, Q8/5
Disponibilidad :	Restringido a usuarios de TIES [UIT-T]

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Actualizado el : 2016-09-14