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ITU-T K.94 (05/2012)

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Método de prueba de perturbación mutua para la evaluación de la degradación de la calidad de funcionamiento de los dispositivos terminales convergentes
La rápida evolución de la tecnología de terminales de telecomunicaciones hace que aparezcan en el mercado cada vez más dispositivos convergentes. Dado que los módulos de los dispositivos convergentes están tan cerca unos de otros, si la tarjeta de circuito impreso (PCB) no está diseñada adecuadamente, sin la puesta a tierra, el apantallamiento o el filtrado necesarios, los módulos pueden causarse perturbaciones de compatibilidad electromagnética (EMC). En la Recomendación UIT-T K.94 se analizan las perturbaciones EMC entre diversos módulos en dispositivos terminales convergentes y se define un método de prueba práctico. Esta prueba de perturbación mutual puede utilizarse como una de las pruebas de inmunidad indicadas en la Recomendación UIT-T K.34 y la Recomendación UIT-T K.48 para determinar el nivel de degradación de la calidad de funcionamiento.
Citation: https://handle.itu.int/11.1002/1000/11637
Series title: K series: Protection against interference
Approval date: 2012-05-29
Provisional name:K.deg
Approval process:AAP
Status: In force
Maintenance responsibility: ITU-T Study Group 5
Further details: Patent statement(s)
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