TABLE DES MATIÈRES

 1     Domaine d'application
 2     Références normatives
 3     Définitions
 4     Abréviations
 5     Modes de mesure et événements à contrôler
        5.1     Définition des modes de mesure
        5.2     Evénements à contrôler
                  5.2.1     Evénements de réseau
                  5.2.2     Evénements de structure de signal d'essai
        5.3     Modes de mesure hors service
                  5.3.1     Mode avec transparence de bout en bout de conteneur d'ordre supérieur (C-4)
                  5.3.2     Mode avec transparence de bout en bout de conteneur d'ordre supérieur (C-3)
                  5.3.3     Mode avec transparence de bout en bout de conteneur d'ordre inférieur (C-3)
                  5.3.4     Mode avec transparence de bout en bout de conteneur d'ordre inférieur (C‑11/C‑12/C-2)
                  5.3.5     Mode avec adaptation d'affluent plésiochrone dans un conteneur d'ordre supérieur (C‑4)
                  5.3.6     Mode avec adaptation d'affluent plésiochrone dans un conteneur d'ordre supérieur (C‑3)
                  5.3.7     Mode avec adaptation d'affluent plésiochrone dans un conteneur d'ordre inférieur (C‑3)
                  5.3.8     Mode avec adaptation d'affluent plésiochrone dans un conteneur d'ordre inférieur (C‑11/C-12/C-2)
                  5.3.9     Mode avec transparence de bout en bout de structures concaténées contiguës (VC‑2‑Xc et VC‑4‑Xc)
        5.4     Modes de mesure en service
                  5.4.1     Evénements à contrôler pour une section de régénération STM-N
                  5.4.2     Evénements à contrôler pour une section multiplex
                  5.4.3     Evénements à contrôler pour un conteneur d'ordre supérieur (C-4)
                  5.4.4     Evénements à contrôler pour un conteneur d'ordre supérieur (C-3)
                  5.4.5     Evénements à contrôler pour un conteneur d'ordre inférieur (C-3)
                  5.4.6     Evénements à contrôler pour un conteneur d'ordre inférieur (C-11/C-12/C-2)
                  5.4.7     Evénements à contrôler pour des structures concaténées contiguës VC-2-Xc et VC‑4‑Xc
 6     Générateur
        6.1     Synchronisation du générateur
        6.2     Débits
        6.3     Structures de signal de test
        6.4     Sorties de signal numérique
                  6.4.1     Interfaces numériques
                  6.4.2     Gigue de sortie
 7     Récepteur
        7.1     Entrées de signal numérique
                  7.1.1     Interfaces numériques
                  7.1.2     Tolérance de gigue d'entrée
                  7.1.3     Points de contrôle protégés
        7.2     Structures de signal d'essai
        7.3     Mesure de la performance en matière d'erreur
                  7.3.1     Mesure de la performance en matière d'erreur à l'aide d'appareils ISM seulement
                  7.3.2     Mesure des erreurs à l'aide d'appareils ISM et d'informations de séquence de test
                  7.3.3     Utilisation des paramètres de performance en matière d'erreur
                  7.3.4     Mesure additionnelle des erreurs
 8     Fonctions diverses
        8.1     Affichage
        8.2     Adjonction d'anomalies et de défauts au signal de sortie
        8.3     Indication d'alarme et d'erreur
        8.4     Accès aux octets de surdébit
        8.5     Capacité de démultiplexage
        8.6     Horodatage des événements
        8.7     Sortie vers des dispositifs d'enregistrement externes
        8.8     Accès de télécommande
        8.9     Interface de réseau de gestion des télécommunications (RGT)
       8.10     Accès aux canaux de communication de données
 9     Conditions d'exploitation
        9.1     Conditions d'environnement
        9.2     Comportement en cas de défaillance de l'alimentation en énergie
Annexe A  Critères applicables à la détection des anomalies et des défauts
        A.1     Anomalies relatives aux mesures de la qualité de fonctionnement
                  A.1.1     Déverrouillage de trame (OOF, out of frame)
                  A.1.2     Erreurs B1
                  A.1.3     Erreurs B2
                  A.1.4     Erreurs B3
                  A.1.5     Indication d'erreur distante de section multiplex (MS-REI)
                  A.1.6     Indication d'erreur distante de conduit d'ordre supérieur (HP-REI)
                  A.1.7     Indication d'erreur distante de conduit d'ordre inférieur (LP-REI)
                  A.1.8     Erreurs BIP-2
                  A.1.9     Erreur de séquence de test (TSE)
        A.2     Défauts relatifs aux mesures de la performance
                  A.2.1     Perte de signal (LOS)
                  A.2.2     Perte de trame (LOF)
                  A.2.3     Non-concordance d'identificateur de repère de section de régénération (RS-TIM)
                  A.2.4     Signal d'indication d'alarme de section multiplex (MS-AIS)
                  A.2.5     Indication de défaut distante de section multiplex (MS-RDI)
                  A.2.6     Perte de pointeur d'unité administratrice (AU-LOP)
                  A.2.7     Signal d'indication d'alarme d'unité administrative (AU-AIS)
                  A.2.8     Indication de défaut distante de conduit d'ordre supérieur (HP-RDI)
                  A.2.9     Non-concordance d'identificateur de repère de conduit d'ordre supérieur (HP‑TIM, higher-order path trace identifier mismatch)
                 A.2.10     Perte de multitrame de circuit d'ordre supérieur (HP‑LOM)
                 A.2.11     Perte de pointeur d'unité d'affluent (TU-LOP, tributary unit loss of pointer)
                 A.2.12     Signal d'indication d'alarme d'unité d'affluents (TU-AIS)
                 A.2.13     Indication de défaut distante de conduit d'ordre inférieur (LP-RDI)
                 A.2.14     Non-concordance d'identificateur de repère de conduit d'ordre inférieur (LP‑TIM, lower-order path trace identifier mismatch)
                 A.2.15     Perte de synchronisation de séquence (LSS)
        A.3     Autres événements non relatifs à la mesure de la qualité de fonctionnement
                  A.3.1     Non-concordance de charge utile de conduit d'ordre supérieur (HP-PLM)
                  A.3.2     Non-concordance de charge utile de conduit d'ordre inférieur (LP-PLM, lower-order path payload mismatch)
                  A.3.3     Conduit d'ordre supérieur non équipé (HP-UNEQ)
                  A.3.4     Conduit d'ordre inférieur non équipé (LP-UNEQ)
                  A.3.5     Perte d'entrée de rythme
                  A.3.6     Indication de défaillance distante de conduit d'ordre inférieur (LP-RFI, lower-order path remote failure indication)
        A.4     Autres informations
                  A.4.1     Décomptes de justification de pointeur (PJC+, PJC-, pointer justification counts)
Annexe B  Classification des indications SDH disponibles
        B.1     Indications d'anomalie et de défaut
Annexe C  Liste des structures de signal de test
        C.1     Structure de signal d'essai TSS1 appliquée à tous les octets d'un conteneur d'ordre supérieur C‑4
        C.2     Structure de signal d'essai TSS2 appliquée à tous les octets d'un conteneur d'ordre supérieur C‑3
        C.3     Structure de signal d'essai TSS3 appliquée à tous les octets d'un conteneur d'ordre inférieur C‑3
        C.4     Structure de signal d'essai TSS4 appliquée à tous les octets de conteneurs d'ordre inférieur (C‑2, C-12, C-11)
        C.5     Structure de signal d'essai TSS5 appliquée à tous les bits d'affluent PDH adaptés à un conteneur C‑4
        C.6     Structure de signal d'essai TSS6 appliquée à tous les bits d'affluent PDH adaptés à un conteneur d'ordre supérieur C-3
        C.7     Structure de signal d'essai TSS7 appliquée à tous les bits d'affluent PDH adaptés à un conteneur d'ordre inférieur C-3
        C.8     Structure de signal d'essai TSS8 appliquée à tous les bits d'affluent PDH adaptés à un conteneur d'ordre inférieur (C-2, C-11, C-12)
        C.9     Structure de signal d'essai appliquée à des structures concaténées contiguës (VC-4-Xc)
       C.10     Structure de signal d'essai appliquée à des structures concaténées contiguës VC-2-Xc
Appendice I  Exemples de connexions d'équipement de mesure avec des éléments de réseau illustrant différents modes de mesure hors service