1 Alcance
2
Referencias
2.1 Referencias normativas
2.2 Referencias informativas
3
Definiciones
4
Abreviaturas
5
Convenios
6
Diagrama funcional de bloques
7
Interfaces
7.1 Interfaces ópticas
7.2 Interfaces eléctricas
7.3 Entrada de la señal de reloj de referencia externa
7.4 Sensibilidad de la interfaz de entrada
8
Función de generación de la fluctuación de fase/fluctuación lenta de
fase
8.1 Fuente de
modulación
8.2 Generador de señales de reloj
8.2.1 Precisión del generador de señales de
reloj
8.3 Generador de la secuencia de prueba digital
8.3.1 Secuencias de prueba digital
8.3.2 Secuencias de prueba digital para señales
tributarias SDH
8.4 Generador de secuencia de puntero
8.4.1 Capacidad de generación de secuencias de
prueba de puntero
8.5 Capacidad de generación mínima
8.5.1 Capacidad de generación de fluctuación de
fase/fluctuación lenta de fase para señales de línea SDH
8.5.2 Capacidad de generación de fluctuación de
fase/fluctuación lenta de fase para señales tributarias SDH
8.6 Precisión de la generación
8.6.1 Fluctuación de fase/fluctuación lenta de
fase intrínseca de la función de generación
9
Función de medición de la fluctuación de fase
9.1 Señal de temporización de referencia
9.2 Capacidades de medición
9.2.1 Gama de medición
9.2.2 Umbral seleccionable
9.2.3 Medida del valor eficaz (RMS) de la
fluctuación de fase
9.2.4
Capacidad de medición para señales tributarias SDH
9.3 Anchura de banda de las mediciones
9.3.1 Respuesta en frecuencia de la función de
medición de la fluctuación de fase para señales de línea SDH
9.3.2 Respuesta en frecuencia de la función de
medición de la fluctuación de fase para señales tributarias SDH
9.4 Precisión de las mediciones
9.4.1 Precisión de los resultados de las
mediciones
9.4.2
Error fijo de las mediciones de la fluctuación de fase de línea SDH
9.4.3 Error fijo de las mediciones de
fluctuación de fase de tributarios SDH
9.4.4 Error de la respuesta en frecuencia
9.4.5 Error dependiente de la señal de pruebas
digital
9.5 Facilidades adicionales
9.5.1 Salida analógica
10 Función de medición de la
fluctuación lenta de fase
10.1 Señal de temporización de referencia
10.2 Medición del TIE (error de intervalo de tiempo)
10.2.1 Intervalo de muestreo
10.2.2 Anchura de banda de medición
10.2.3 Gama de medición
10.2.4 Precisión del resultado de la medición
10.3 Medición del MTIE (máximo error en el intervalo de tiempo)
10.3.1 Gamas de medición y de intervalos de
observación
10.3.2 Precisión del algoritmo de cálculo
10.3.3 Precisión del resultado de la medición
10.4 Medición de la TDEV (desviación de tiempo)
10.4.1 Gamas de medición y de los intervalos de
observación
10.4.2 Precisión del algoritmo de cálculo
10.4.3 Precisión del resultado de la medición
11 Ambiente de funcionamiento
Anexo A – Señales de prueba estructuradas para la medición de la fluctuación de
fase
A.1 Introducción
A.1.1 Condiciones de prueba de carga neta
A.1.2 Condiciones de bytes suplementarios SDH
A.2 Estructura de las señales de prueba para STM -N
A.2.1 Señal STM-1
A.2.2 Señal STM-N (N ³ 4)
A.2.3 Señal STM-0
A.3 Estructura de la señal de prueba para señales STM-N
concatenadas
A.3.1 Señal STM-N (N ³ 4)
Apéndice I – Directrices relativas a la medida de la fluctuación de fase de
sistemas SDH
Apéndice II – Directrices relativas a la medición de la fluctuación lenta de
fase en sistemas SDH
II.1 Medidas de la fluctuación lenta de fase
II.1.1 Consideraciones generales sobre las
configuraciones de las medidas de la fluctuación lenta de fase
II.1.2 Medidas sincronizadas de la fluctuación
lenta de fase
II.1.3 Medidas no sincronizadas de la
fluctuación lenta de fase
II.2 Medidas de la estabilidad de la señal de reloj
Apéndice III – Directrices relativas a la generación de las secuencias de
prueba de puntero
Apéndice IV – Respuesta de la función de medición de la fluctuación de
fase/fluctuación lenta de fase total
IV.1 Introducción
IV.2 Parámetros del filtro de medición
IV.3 Límites de la plantilla para la respuesta del filtro de
medición paso alto
IV.3.1 Filtro paso alto para la medición de la
fluctuación de fase de tributarios SDH
Apéndice V – Verificación de los algoritmos de cálculo del MTIE y de la TDEV
V.1 Descripción funcional de la fuente de ruido de TIE