Rec. CCITT O.151 (11/1988) – APARATO DE MEDIDA DE LA CARACTERÍSTICA DE ERROR EN SISTEMAS DIGITALES CON UNA VELOCIDAD PRIMARIA Y SUPERIOR
1 Condiciones generales
2 Secuencias de prueba
2.1 Secuencia seudoaleatoria para sistemas que emplean una secuencia de 215 - 1 bits de longitud
2.2 Secuencia seudoaleatoria para sistemas que emplean una secuencia de 223 - 1 bits de longitud
2.3 Secuencias seudoaleatorias para sistemas que emplean una longitud de una secuencia de 220 - 1 bits
2.4 Secuencias fijas (facultativas)
3 Velocidad binaria
4 Interfaces
5 Gama de medida de la tasa de error
6 Modo de funcionamiento
7 Medida de los intervalos de tiempo con errores
8 Condiciones ambientales de funcionamiento
Referencias