• Rec. CCITT O.151 (11/1988) – APPAREIL POUR LA MESURE DE LA QUALITÉ EN TERME D'ERREURS DANS LES SYSTÈMES NUMÉRIQUES AUX DÉBITS PRIMAIRES ET AU-DESSUS
  • 1 Considérations générales
  • 2 Séquences d'essai
    • 2.1 Séquence pseudo-aléatoire pour des systèmes utilisant une longueur de séquence de 215 - 1 bits
    • 2.2 Séquence pseudo-aléatoire pour des systèmes utilisant une longueur de séquence de 223 - 1 bits
    • 2.3 Séquence pseudo-aléatoire pour des systèmes utilisant une longueur de séquence de 220 - 1 bits
    • 2.4 Séquences fixes (facultatives)
  • 3 Débit binaire
  • 4 Jonctions
  • 5 Domaine de la mesure du taux d'erreur sur les bits
  • 6 Mode de fonctionnement
  • 7 Mesure des intervalles de temps erronés
  • 8 Conditions de fonctionnement
  • Références