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[1620-GEN]  LS/i/r on leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to ITU-T SG5-LS121) [from ITU-T SG9]

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Mise à disposition

English

Zip (Document)  

713940 octets 2016-09-14 [1620-GEN] 
 

Document :

UIT-T SG 5  (Période d'études 2013)  Document Temporaire  1620-GEN

Titre :

LS/i/r on leakage and impact of radio frequency noise from telecommunication systems using metallic conductors (reply to ITU-T SG5-LS121) [from ITU-T SG9]

Reçu le :

2016-09-14

Source :

ITU-T SG9

AI/Question :

Q6/5, Q8/5

Disponibilité :

Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-T]

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Mis à jour le : 2016-09-14