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[268-PLEN]  OUTGOING LS - High-quality, testable Recommendations and test specifications

UIT-T SG 17 (Période d'études 2009) - Sécurité

Réunion  du 2009-02-11 au 2009-02-20 - Lieu : Suisse [Genève]

Document Temporaire : 268-PLEN

Reçu le : 2009-02-19

Source : ITU-T SG 17

Relatif à la (aux) question(s) : QALL/17

Disponibilité :  Locked Réservé aux utilisateurs TIES [UIT-T]

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Mis à jour le : 2009-02-19