1 Alcance
2
Referencias
3
Definiciones
4
Abreviaturas
5
Modos de medición y eventos que se han de supervisar
5.1 Definición de los modos de medición
5.2 Eventos que han de supervisarse
5.2.1 Eventos de red
5.2.2 Eventos relativos a la estructura de la
señal de prueba
5.3 Modos de medición fuera de servicio
5.3.1 Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden superior (C-4)
5.3.1.1 Sección de
regeneración STM‑N
5.3.1.1.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.1.1.2 Estructuras de la
señal de prueba que han de utilizarse
5.3.1.2 Sección múltiplex
STM-N
5.3.1.2.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.1.2.2 Estructuras de la
señal de prueba que han de utilizarse
5.3.1.3 Trayecto VC-4 de orden superior
5.3.1.3.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.1.3.2 Estructuras de la
señal de prueba que han de utilizarse
5.3.2 Modo con
transparencia de extremo a extremo en contenedor de orden superior (C-3)
5.3.2.1 Sección de
regeneración STM-N
5.3.2.1.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.2.1.2
Estructuras de la señal de prueba que han de utilizarse
5.3.2.2 Sección múltiplex
STM-N
5.3.2.2.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.2.2.2 Estructuras de la señal de prueba que han de utilizarse
5.3.2.3 Trayecto VC-3 de
orden superior
5.3.2.3.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.2.3.2 Estructuras de la señal de prueba que han
de utilizarse
5.3.3 Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden inferior (C-3)
5.3.3.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.3.2 Estructuras de la señal de prueba que han de utilizarse
5.3.4 Modo con transparencia de extremo a
extremo en contenedor de orden inferior (C‑11/C-12/C-2)
5.3.4.1 Eventos que han de supervisarse
5.3.4.2 Estructuras de la
señal de prueba que han de utilizarse
5.3.5 Modo con aplicación de afluente
plesiócrono en un contenedor de orden superior (C-4)
5.3.5.1
Eventos que han de supervisarse
5.3.5.2 Estructuras de la
señal de prueba que han de utilizarse
5.3.6 Modo con correspondencia de afluente
plesiócrono en un contenedor de orden superior (C‑3)
5.3.6.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.6.2 Estructuras de señal
de la prueba que han de utilizarse
5.3.7 Modo con correspondencia de afluente
plesiócrono en un contenedor de orden inferior (C-3)
5.3.7.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.7.2 Estructuras de la
señal de prueba que han de utilizarse
5.3.8 Modo con correspondencia de afluente
plesiócrono en un contenedor de orden inferior (C‑11/C‑12/C-2)
5.3.8.1 Eventos que han de
supervisarse
5.3.8.2 Estructuras de la
señal de prueba que han de utilizarse
5.3.9 Modo con transparencia de extremo a
extremo de estructuras concatenadas (VC‑2‑mc y VC‑4‑Xc)
5.4 Modos de medición en servicio
5.4.1 Eventos que han de supervisarse para una
sección de regeneración STM-N
5.4.2 Eventos que han de supervisarse para una
sección múltiplex
5.4.3 Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden superior (C-4)
5.4.4 Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden superior (C-3)
5.4.5 Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden inferior (C-3)
5.4.6 Eventos que han de supervisarse para un
contenedor de orden inferior (C-11/C-12/C-2)
5.4.7 Eventos que han de supervisarse para
estructuras concatenadas VC-2-mc y VC-4-Xc
6
Generador
6.1 Sincronización del generador
6.2 Velocidades binarias
6.3 Estructuras de la señal de prueba
6.4 Salidas de señal digital
6.4.1 Interfaces digitales
6.4.2 Fluctuación de fase de salida
7
Receptor
7.1 Entradas de señal digital
7.1.1
Interfaces digitales
7.1.2 Tolerancia de fluctuación de fase de
entrada
7.1.3 Puntos de supervisión protegidos
7.1.3.1 Puntos protegidos de
supervisión eléctrica
7.1.3.2 Puntos de supervisión óptica protegidos
7.2 Estructuras de la señal de prueba
7.3 Medición de la característica de error
7.3.1 Medición de la característica de error
utilizando solamente facilidades ISM
7.3.1.1 Tipo de medición
7.3.1.2 Eventos relacionados
con la característica de error
7.3.1.3 Parámetros de
característica de error
7.3.2 Medición de error que utiliza facilidades
ISM e información de secuencia de prueba
7.3.3 Utilización de los parámetros de calidad
de funcionamiento
7.3.4 Medición de error adicional
8
Funciones varias
8.1 Presentación visual
8.2 Adición de anomalías y defectos en la señal de salida
8.3 Indicación de error y alarma
8.4 Acceso a bytes de tara
8.5 Capacidad de demultiplexación
8.6 Indicación de fecha y hora de los eventos
8.7 Salida hacia dispositivos de registro externos
8.8 Puerto de control a distancia
8.9 Interfaz TMN
8.10 Acceso a canales de comunicaciones de datos
9
Condiciones de funcionamiento
9.1 Condiciones ambientales
9.2 Comportamiento en caso de fallo de la alimentación de energía
Anexo A – Criterios para la
detección de anomalías y defectos
A.1 Anomalías relacionadas con las mediciones de calidad de
funcionamiento
A.1.1 Fuera de trama (OOF)
A.1.2 Errores B1
A.1.3 Errores B2
A.1.4 Errores B3
A.1.5 Indicación de error distante de sección múltiplex (MS‑REI)
A.1.6 Indicación de error distante de trayecto
de orden superior (HP-REI)
A.1.7 Indicación de error distante de trayecto
de orden inferior (LP-REI)
A.1.8
Errores BIP-2
A.1.9 Error de secuencia de prueba (TSE)
A.2 Defectos relacionados con mediciones de calidad de
funcionamiento
A.2.1 Pérdida de señal (LOS)
A.2.2 Pérdida de trama (LOF)
A.2.3 Discordancia de identificador de rastreo
de sección de regeneración (RS-TIM)
A.2.4 Señal de indicación de alarma de sección
múltiplex (MS‑AIS)
A.2.5 Indicación de defecto distante de sección
múltiplex (MS‑RDI)
A.2.6 Pérdida de puntero de unidad
administrativa (AU‑LOP)
A.2.7 Señal de indicación de alarma de unidad
administrativa (AU‑AIS)
A.2.8 Indicación de defecto distante de
trayecto de orden superior (HP‑RDI)
A.2.9 Discordancia de identificador de rastreo
de trayecto de orden superior (HP‑TIM)
A.2.10 Pérdida de multitrama de unidad afluente
(TU‑LOM)
A.2.11 Pérdida de puntero de unidad afluente (TU‑LOP)
A.2.12 Señal de indicación de alarma de unidad
afluente (TU‑AIS)
A.2.13 Indicación de defecto distante de
trayecto de orden inferior (LP‑RDI)
A.2.14 Discordancia de identificador de rastreo
de trayecto de orden inferior (LP‑TIM)
A.2.15 Pérdida de sincronización de secuencia
(LSS)
A.3 Otros eventos no relacionados con la medición de calidad de
funcionamiento
A.3.1 Discordancia de cabida útil de trayecto
de orden superior (HP‑PLM)
A.3.2 Discordancia de cabida útil de trayecto
de orden inferior (LP‑PLM)
A.3.3 Trayecto de orden superior no equipado
(HP‑UNEQ)
A.3.4 Trayecto de orden inferior no equipado
(LP‑UNEQ)
A.3.5 Pérdida de entrada de temporización
A.3.6 Indicación de fallo distante de trayecto
de orden inferior (LP‑RFI, lower-order
path remote failure indication)
A.4 Otra información
A.4.1 Eventos de justificación de puntero de
unidad administrativa (AU‑PJE,
administrative unit pointer justification events)
Anexo B – Clasificación de
indicaciones disponibles en la SDH
Anexo C – Lista de
estructuras de señal de prueba
C.1 Estructura de la señal de prueba TSS1 aplicada a todos los
bytes de un contenedor de orden superior C‑4
C.2 Estructura de la señal de prueba TSS2 aplicada a todos
los bytes de un contenedor de orden superior C‑3
C.3 Estructura de la señal de prueba TSS3 aplicada a todos
los bytes de un contenedor de orden superior C‑3
C.4 Estructura de la señal de prueba TSS4 aplicada a todos los
bytes de contenedores de orden inferior (C‑2, C‑12, C‑11)
C.5 Estructura de la señal de prueba TSS5 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C-4
C.6 Estructura de la señal de prueba TSS6 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C-3 de orden
superior
C.7 Estructura de la señal de prueba TSS7 aplicada a todos los
bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor C‑3 de
orden inferior
C.8 Estructura de la señal de prueba TSS8 aplicada a todos
los bits afluentes PDH con correspondencia en un contenedor (C‑2, C‑11,
C‑12) de orden inferior
C.9 Estructura de la señal de prueba aplicada a estructuras
concatenadas
Apéndice I – Ejemplos de conexiones de equipos de medición a elementos de red
que ilustran diferentes modos de medición fuera de servicio